iSTART-TEK
AI時代のメモリ集積化を支える、次世代テスト・リペア技術
iSTART-TEKは、メモリ向けEDAツールおよびIPの開発に注力し、チップ内蔵メモリのテスト・リペアソリューションを提供しています。MBIST（Memory Built-In Self-Test）およびMBISR（Memory Built-In Self-Repair）のコア技術を有し、半導体のメモリテストにおける高い技術力を強みとしています。
今回の出展では、START™ v5、UDA（User-Defined Algorithms）、およびMART（MBIST Algorithm Recommendation Tool）を中心に、柔軟なテストアルゴリズム、AIを活用したアルゴリズム推奨技術、DPPM制御、小面積設計など、先進的な半導体テスト技術をご紹介します。
当社の技術は、自動車向け電子機器、AI、HPC、ネットワーク・通信機器、コンシューマーエレクトロニクスなど、幅広い分野で活用されています。約30件の特許を保有し、ISO 9001、ISO/IEC 27001、ISO 26262 TCL1の認証を取得しています。機能安全およびFMEDAの要求にも対応し、お客様の半導体テスト効率の向上、製品の市場投入期間の短縮、ならびにASIL認証プロセスの効率化を支援します。
製品・サービス
START™ v5 (SRAM Built-in Testing And Repairing Technology)
車載機能安全対応MBIST/MBISRソリューション
機能安全設計フローに対応した、車載レベルも支援できるMBISTおよびMART、UDA、TECなど独自MBISR技術を提供します。
※MART：MBISTアルゴリズム推薦ツール。アルゴリズム選定工数を大幅に削減します。
※UDA：ユーザー定義のテストエレメントで多様化するメモリ検証ニーズに柔軟に対応します。
※TEC：CP後にもテストエレメントの組み合わせ変更・シーケンス最適化・アルゴリズム調整ができる自社のコア技術。
EZ-BIST™ V2
面積効率の最適化を実現するコストパフォーマンスに優れたMBISTソリューションです。
